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2014, Année Internationale de la Cristallographie

publié le , mis à jour le

Cette manifestation IYCr2014 sera inaugurée lors d’une cérémonie officielle organisée par l’UNESCO et l’IUCR, et qui aura lieu au siège de l’UNESCO les lundi 20 et mardi 21 janvier 2014.

L’année Internationale de la Cristallographie (IYCr2014) commémore non seulement le centenaire de la diffraction des rayons X, qui permet l’analyse la plus précise des structures atomiques et moléculaires, mais aussi le 400éme anniversaire de la description par Kepler (1611) de la symétrie des cristaux de glace, ce qui a initié l’étude générale du rôle de la symétrie dans les propriétés de la matière.

Une clé pour la cristallographie : la diffraction des rayons X

La diffraction de rayons X est une méthode non destructive couramment utilisée pour identifier la nature et la structure des phases cristallisées. Il s’agit d’ un phénomène de diffusion cohérente et élastique se produisant lorsque les rayons X entrent en interaction avec la matière organisée.

Le LAMS dispose d’un appareil portable de diffraction des rayons X (XRD) associé à la fluorescence des rayons X (XRF), développé afin d’étudier les objets d’art des musées ou monuments. Ce système permet d’analyser tous types de matériaux, la diffraction des rayons X étant particulièrement adaptée pour identifier les pigments ou encore les produits de dégradation. C’est le premier appareil portable de XRD/XRF entièrement dédié au patrimoine culturel.
Nous sommes actuellement en train de développer un nouveau système, plus résolutif et avec une qualité de données égale à celles des meilleurs instruments conventionnels du marché.

Pour célébrer cet évènement, un article présentera chaque mois sur ce site un des aspects de l’usage des méthodes de la cristallographie pour l’étude des matériaux du Patrimoine

Télécharger une présentation de cet évènement sur le site de l’IYCr2014.

L’appareil d’XRD/XRF du LAMS devant un tableau de Van Gogh : "Wheat field with reaper and sun", Otterlo, Pays-Bas